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无接触少子寿命及红外探伤综合测试仪
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产品: 浏览次数:6无接触少子寿命及红外探伤综合测试仪 
单价: 1.00元/台
最小起订量: 1 台
供货总量: 11 台
发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2020-09-09 16:38
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详细信息

MWR-2S-3I是一款功能异常强大的无接触少子寿命及红外探伤综合测试仪,能够对单晶硅棒、多晶硅块及硅片提供快速、无接触、无损伤、高分辨率的多功能扫描测试。一方面,其通过微波光电衰退特性原理来测量非平衡载流子寿命的;另一方面,通过近红外对硅材料的光学特性,探测缺陷。并且单晶硅棒、多晶硅块无须进行特殊处理此设备是太阳能电池硅片企业、多晶铸锭企业、拉晶企业的测量仪器。

 

产品特点

■ 系统功能强大,少子寿命及缺陷同时测量

■ 无接触和无损伤测量

■ 自动测量,具有传送系统,可进行连续测量

■ 快速测量,测试扫描速度达到2000mm/min

■ 测试范围广:包括硅块、硅棒、硅片等

■ 应用于硅棒硅块、硅片的进厂、出厂检查,生产工艺过程中重金属沾污和缺陷的监控等

■ 性价比高,极大程度地降低了企业的测试成本

■ 可以在线实时对产品监控

 




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