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无接触硅片厚度TTV电阻率综合测试系统
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产品: 浏览次数:5无接触硅片厚度TTV电阻率综合测试系统 
单价: 1.00元/台
最小起订量: 1 台
供货总量: 11 台
发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2020-09-09 16:34
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详细信息

PV-2000系列无接触硅片厚度电阻率综合测试系统为太阳能/光伏硅片及其他材料提供快速、多通道的厚度、(总厚度变化)、翘曲及无接触电阻率测量功能。并提供基于TCP/IP的数据传输接口及基于Windows的控制软件,用以进行在线及离线数据管理功能。

产品特点:

使用I Instruments独有的推/拉电容探针技术
■ 每套系统提供多三个测量通道
可进行大小、平均厚度测量和测量

可进行翘曲度测量(需要3探t)
■ 用激光传感器进行线锯方向和深度监视(可选)
■ 集成数据采集和电气控制系统
为工厂测量提供快速以太网通讯接口,速率为每秒5
■ 可增加的直线厚度扫描数量
与现有的硅片处理设备有数字I/O接口
基于Windows的控制软件提供离线和在线的数据监控
■ 提供标准及客户定制的探t
提供基于Windows的动态链接库用于与控制电脑集成
■ 无接触,用涡电流法测量硅片电阻率


 


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